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晶圆测试

about hiwafer

  公司拥有洁净度1000级的测试场地,并拥有业内先进的仪器设备,如:cascade 的高低温自动探针台、pna-x矢量网络分析仪、信号源、频谱仪、噪声仪、半导体参数分析仪等仪器设备,具备化合物半导体器件及芯片的直流测试能力和射频测试能力,可完成单颗有源及无源器件、mmic芯片以及整晶圆级的测试,能进行质量一致性检验

  直流方面可对无源及有源器件的各项直流指标进行测量,其中电流测试可达到fa量级。

  射频方面,可对器件进行小信号s参数测试,负载牵引测试、噪声测试。其中小信号s参数测试 频率可达67ghz;负载牵引测试频率可覆盖0.8-50ghz;噪声测试频率可覆盖8-50ghz。对mmic芯片可以 进行无源类芯片、功率放大类芯片、开关类芯片、混频类芯片以及多功能芯片的在片测试,频率最 高可达67ghz。

       对于整晶圆,我们可根据器件或芯片种类进行不同直流特性及射频特性的自动化cp测试,从而对器件或芯片的各项性能指标进行筛选。